粒子計測システム（PIAシステム）
分散二相流の特性を表す重要な物理量は粒子個々の粒子径と速度の情報です。PIA（Particle Image Analyzer）は、飛翔している粒子を顕微鏡レンズ等を用いて拡大撮影し、粒子像を画像解析することによって粒子径と速度を測定する手法です。
PIAは球形/非球形、透明/不透明、固体/液体の別なく測定できることが利点です。測定精度は撮像デバイスの空間分解能と撮影光学系の分解能によって規定され、最適化された条件で5mm程度です。
FtrPIAシステムでは、被写界深度の問題を解決したFtrPIA-TCL、濃密粒子群の計測のためのFtrPIA-Endoscopeをラインアップしております。
FtrPIAシリーズの基本構成
ノズル近傍の噴霧液滴
| 製品名 | 概要 |
| FtrPIA-Shadow | 背景照明式PIA計測のための標準システム |
| FtrPIA-TCL | Two-color Laser（TCL）を利用した被写界深度チェック機能付のPIAシステム（※1） |
| FtrPIA-Endoscope | 独自開発エンドスコープを利用した濃密粒子群計測用PIA（※2） |
※1 特許3635267「粒子特徴量撮影計測装置」
※2 本製品は平成19年度科学技術振興機構の独創モデル化事業により開発