FtrPIA-TCL

FtrPIA-TCLカタログ（PDF, 218KB）

被写界深度チェックが可能な高精度粒子計測システムです。本システムはDIT法の欠点とされた被写界深度の影響による測定精度低下を克服した高精度粒子計測システムです。
＊特許3635275

特徴

背景照明と同時に第2色のレーザシート光を照射することによって、被写界深度を明確化したシステムです。これによりFtrPIA-Shadowシステムの特徴を生かしたまま、背景照明方式の原理的欠点である「被写界深度の影響」を取り除くことに成功しました。3次元的な粒子飛翔の様子をレーザシート光による断面撮影をするために、分散二相流の特性把握に威力を発揮します。

ハードウェアの特徴

2色のパルスレーザ照明、ストロボ照明など光源と長作動距離顕微鏡レンズを組み合わせます。

ソフトウェアの特徴

FtrPIAは、シンプルな操作性を有する信頼性の高いPIAソフトウェアです。完全自社開発により低価格を実現し、個別カスタマイズにも対応いたします。

ハードウェア

• 200万画素高精細カメラ（同期計測機能付き）
• 長作動撮影光学系
• ダブルパルスNd:YAGレーザ
• 色素レーザ
• 光干渉低減装置
• パルス制御装置
• 照明用光学系
• ホストPC

ソフトウェア

• 入力画像：BMP、TIFF、AVI（非圧縮）
• 前処理：背景減算、マスク処理、ノイズ除去、輝度値オフセット
• 粒子輪郭決定 ：最大輝度トレース法、単純2値化法
• 被写界深度チェック：前時刻のみ、両時刻
• 粒子形状評価 ：面積相当径、最大長、幅、長短径比、円らしさ、X方向フィレ径、Y方向フィレ径、真円度、針状度、粒子重心座標
• 粒子速度測定：(u,v)成分、速度の大きさ
• 統計量解析 ：粒子個数、算術平均粒子径、ザウター平均粒子径、粒子径ヒストグラム,粒子径分散、面積比など
• 相関図：粒子径−速度相関など
• データ出力：専用バイナリ、テキスト

注1　動作OS：WindowsXP Professional
注2　画像取り込み機能：専用ソフト（FtrCAM）により各種計測カメラからの画像取り込みやイベント同期撮影が可能です。
注3　技術サポート：専門スタッフによる初回計測や受託計測のサポートをご提供します（オプション）。

計測例

赤色レーザによる被写界深度チェック

粒度分布（長さ基準）

粒度分布（体積基準）

速度粒子径相関図