FtrPIA-Endoscope

独自開発エンドスコープを利用した濃密粒子群計測用PIAシステムです。
＊本システムの開発はJST（科学技術振興機構）の平成19年度科学技術振興機構の独創モデル化事業における開発費支援を受けて開発されたものです。
特許出願中

特徴

気体中または液体中に濃密に分散飛翔した粒子群における粒子特徴量を計測するためのプローブ型の粒子計測システムです。

ハードウェアの特徴

照明系および撮影系をコンパクトなプローブとして一体化することによって、濃密粒子群の内部に挿入することができ、正確な粒子特徴量の計測を可能にします。

ソフトウェアの特徴

FtrPIAは、シンプルな操作性を有する信頼性の高いPIAソフトウェアです。完全自社開発により低価格を実現し、個別カスタマイズにも対応いたします。

ハードウェア

• プローブ
• 200万画素高精細カメラ（同期計測機能付き）
• ダブルパルスNd:YAGレーザ
• 光干渉低減装置
• パルス制御装置
• ホストPC

ソフトウェア

• 入力画像：BMP、TIFF、AVI（非圧縮）
• 前処理：背景減算、マスク処理、ノイズ除去、輝度値オフセット
• 粒子輪郭決定 ：最大輝度トレース法、単純2値化法
• 粒子形状評価 ：面積相当径、最大長、幅、長短径比、円らしさ、X方向フィレ径、Y方向フィレ径、真円度、針状度、粒子重心座標
• 粒子速度測定：(u,v)成分、速度の大きさ
• 統計量解析 ：粒子個数、算術平均粒子径、ザウター平均粒子径、粒子径ヒストグラム,粒子径分散、面積比など
• 相関図：粒子径−速度相関など
• データ出力：専用バイナリ、テキスト

注1　動作OS：WindowsXP Professional
注2　画像取り込み機能：専用ソフト（FtrCAM）により各種計測カメラからの画像取り込みやイベント同期撮影が可能です。
注3　技術サポート：専門スタッフによる初回計測や受託計測のサポートをご提供します（オプション）。

計測例

第1時刻の粒子画像

第2時刻の粒子画像