FtrPIA-TCL
FtrPIAカタログ（PDF, 1,04MB）
Two-color Lase（TCL）を利用した被写界深度チェック機能付のPIAシステム
被写界深度チェックが可能な高精度粒子計測システムです。
背景照明と同時に第2色のレーザシート光を照射することにより、 被写界深度を明確化しました。
3次元的な粒子飛翔の様子をレーザシート光による断面撮影をするために、分散二相流の特性把握に威力を発揮します。
※ 特許3635275
FtrPIA-TCLシステム 構成例
ハードウェア システム構成
- ・200万画素高精細カメラ（同期計測機能付き）
- ・ダブルパルスNd:YAGレーザ
- ・色素レーザ
- ・長作動撮影光学系
- ・照明用光学系
- ・光干渉低減装置
- ・ディレイパルス発生装置
- ・ホストPC
- ※ 既存ハードウェアを活かした柔軟なシステム構築が可能です。
FtrPIA 解析ソフトウェア
高精度な可視化計測と解析を実現
FtrPIAソフトウェアは、低密度粒子画像により個別粒子速度を解析します。画像内に任意に配置できる計算点における移動量を推定する機能の一部として、計算点として粒子像を抽出し、それらの移動量・特徴量が得られます。
シンプルな操作性を有するPIAソフトウェアがさらに進化
通常は別プログラムとして製品化されるPIV・PTV・PIAが『FtrPIV』に統合実装され、より多彩な粒子画像解析を実現します。
数多くの受託計測業務で培われた「経験と技術ノウハウ」を結集し、経験の浅い解析スタッフから研究者・専門家まで、幅広い業種・業態でご利用いただけます。粒子速度解析、粒子像解析など、様々な機能を統合利用することで、より多面的な情報分析を実現します。
完全自社開発により低価格を実現し、個別カスタマイズにも対応いたします。