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粒子計測(PIA)システム

背景照明方式粒子計測システム

FtrPIAカタログ(PDF, 1,04MB)

可視化から定量化までをスムーズに融合する粒子計測システム

FtrPIA (Particle Image Analyzer) は、背景照明と直接撮影を利用した粒子計測システムです。

球形/非球形、透明/不透明、液体/粉体/気泡など多様な粒子を測定できることを特徴とします。
粒子形成過程から飛翔状況までを可視化しながら定量化できるため、分散二相流の特性把握に威力を発揮します。

被写界深度の影響を取り除いたFtrPIA-TCL(Two-color Laser)システム、濃密粒子群測定のためのプローブ方式のFtrPIA-Endoscopeのラインナップを揃えています。

FtrPIA標準システム構成例
FtrPIA標準システム構成例

FtrPIAシリーズの基本構成 ノズル近傍の噴霧液滴
   FtrPIAシリーズの基本構成        ノズル近傍の噴霧液滴

製品ラインナップ

>FtrPIA-Shadow

FtrPIA-Shadow


背景照明式PIA計測のための標準システム
DIT ( Direct Image Technique )法による粒子計測システムです。背景照明と直接撮影を利用した粒子計測システムの基本システムです。

FtrPIA-TCL

FtrPIA-TCL


Two-color Laser(TCL)を利用した被写界深度チェック機能付のPIAシステムです。DIT法の欠点とされた被写界深度の影響による測定精度低下を克服した高精度粒子計測システムです。
* 特許取得

FtrPIA-Endoscope

FtrPIA-Endoscope


独自開発エンドスコープを利用した濃密粒子群計測用PIA
*本システムの開発はJST(科学技術振興機構)の平成19年度科学技術振興機構の独創モデル化事業における開発費支援を受けて開発されたものです。* 特許取得

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