FtrPIA 解析ソフトウェア

高精度な可視化計測と解析を実現

FtrPIAカタログ（PDF, 1,04MB）

シンプルな操作性を有するPIAソフトウェアがさらに進化

分散二相流の特性を表す重要な物理量は粒子個々の粒子径と速度の情報です。
PIA(Particle Image Analyzer)は、飛翔している粒子を顕微鏡レンズ等を用いて拡大撮影し、粒子像を画像解析することによって粒子径と速度を測定する手法です。
PIAは 球形/非球形、透明/不透明、固体/液体の別なく測定できることが利点です。測定精度は撮像デバイスの空間分解能と撮影光学系の分解能によって規定され、最適化された条件で5um程度です。

データTip表示例
『FtrPIA』は、低密度粒子画像により個別粒子速度を解析します。画像内に任意に配置できる計算点における移動量を推定する機能の一部として、計算点として粒子像を抽出し、それらの移動量・特徴量が得られます。
汎用性の高い粒子像検出機能がPIV機能と融合し、速度場解析を新しい知見へと導きます。

統合PIVソフトウェア『 FtrPIV』と融合した『FtrPIA』

通常は別プログラムとして製品化されるPIV・PTV・PIAが『FtrPIV』に統合実装され、より多彩な粒子画像解析を実現します。
数多くの受託計測業務で培われた「経験と技術ノウハウ」を結集し、経験の浅い解析スタッフから研究者・専門家まで、幅広い業種・業態でご利用いただけます。粒子速度解析、粒子像解析など、様々な機能を統合利用することで、 より多面的な情報分析を実現します。
完全自社開発により低価格を実現し、個別カスタマイズにも対応いたします。

多彩な粒子形状の計測を可能とする粒子計測(PIA)システムラインナップ

FtrPIAシステムでは、背景照明式PIA計測のための標準システムであるFtrPIA-Shadow、被写界深度の問題を解決したFtrPIA-TCL、濃密粒子群の計測のためのFtrPIA-Endoscopeをラインアップしております。

『FtrPIA-Shadow』の計測事例は、こちらからご覧いただけます。