FtrPIA-Endoscope
FtrPIAカタログ（PDF, 1,04MB）
独自開発エンドスコープを利用した濃密粒子群計測用PIA
濃密に分散飛翔する粒子群の粒子特徴量を計測するためのプローブ型の粒子計測システムです。
本システムの開発はJST（科学技術振興機構）の平成19年度科学技術振興機構の独創モデル化事業における開発費支援を受けて開発されたものです。
※ 特許取得
ハードウェアの特徴
照明系および撮影系をコンパクトなプローブとして一体化することによって、濃密粒子群の内部に挿入することができ、正確な粒子特徴量の計測を可能にします。
ハードウェア システム構成
- ・可視化プローブ
- ・200万画素高精細カメラ（同期計測機能付き）
- ・ダブルパルスNd:YAGレーザ
- ・光干渉低減装置
- ・ディレイパルス発生装置
- ・ホストPC
- ※ 既存ハードウェアを活かした柔軟なシステム構築が可能です。
FtrPIA 解析ソフトウェア
高精度な可視化計測と解析を実現
FtrPIAソフトウェアは、低密度粒子画像により個別粒子速度を解析します。画像内に任意に配置できる計算点における移動量を推定する機能の一部として、計算点として粒子像を抽出し、それらの移動量・特徴量が得られます。
シンプルな操作性を有するPIAソフトウェアがさらに進化
通常は別プログラムとして製品化されるPIV・PTV・PIAが『FtrPIV』に統合実装され、より多彩な粒子画像解析を実現します。
数多くの受託計測業務で培われた「経験と技術ノウハウ」を結集し、経験の浅い解析スタッフから研究者・専門家まで、幅広い業種・業態でご利用いただけます。粒子速度解析、粒子像解析など、様々な機能を統合利用することで、より多面的な情報分析を実現します。
完全自社開発により低価格を実現し、個別カスタマイズにも対応いたします。